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基于关键路径延时检测的自适应电压缩减技术
引用本文:秋攀,乔树山,凌康,孙晓蕾,赵慧冬,宋强国.基于关键路径延时检测的自适应电压缩减技术[J].半导体技术,2015,40(4):250-254.
作者姓名:秋攀  乔树山  凌康  孙晓蕾  赵慧冬  宋强国
作者单位:中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029
基金项目:国家自然科学基金资助项目
摘    要:为了减小传统的最差情况设计方法引入的电压裕量,提出了一种变化可知的自适应电压缩减(AVS)技术,通过调整电源电压来降低电路功耗.自适应电压缩减技术基于检测关键路径的延时变化,基于此设计了一款预错误原位延时检测电路,可以检测关键路径延时并输出预错误信号,进而控制单元可根据反馈回的预错误信号的个数调整系统电压.本芯片采用SMIC180 nm工艺设计验证,仿真分析表明,采用自适应电压缩减技术后,4个目标验证电路分别节省功耗12.4%,11.3%,10.4%和11.6%.

关 键 词:自适应电压缩减(AVS)  预错误  原位延时检测  关键路径  低功耗

Adaptive Voltage Scaling Technique Based on Critical Path Delay Monitoring
Abstract:
Keywords:adaptive voltage scaling (AVS)  pre-error  in-situ delay monitor  critical path  low power
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