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AlN单晶生长热场稳定性模拟
引用本文:张丽,齐海涛,程红娟,史月增.AlN单晶生长热场稳定性模拟[J].半导体技术,2015,40(8):621-625.
作者姓名:张丽  齐海涛  程红娟  史月增
作者单位:中国电子科技集团公司 第四十六研究所,天津,300220;中国电子科技集团公司 第四十六研究所,天津,300220;中国电子科技集团公司 第四十六研究所,天津,300220;中国电子科技集团公司 第四十六研究所,天津,300220
摘    要:借助多物理场耦合软件模拟了物理气相传输法AlN单晶生长系统中的热场分布.探讨了生长不同厚度晶体的系统内部热场分布,并与实际生长不同厚度晶体的表面形貌进行比对.模拟结果表明,随着晶体厚度的增大,生长系统内部的轴向温度梯度出现不同程度的降低.晶体表面的径向温度曲线逐渐变为微凸界面,这与实际单晶厚度增大时表面形貌的变化趋势基本一致.另外模拟了多晶AlN源的升华收缩对热场分布稳定性的影响.结果表明,多晶AlN源收缩导致系统稳定性下降.通过分析不同电流下的热场分布结果,提出改善系统稳定性的措施.

关 键 词:多物理场耦合  AlN单晶  物理气相传输法  热场分布  稳定性

Thermal Field Stability Simulation of AlN Single Crystal Growth
Abstract:
Keywords:multi-physical coupled  AlN single crystal  physical vapor transport  thermal field distribution  stability
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