| 基于加速寿命试验的IGBT模块寿命预测和失效分析 |
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| 引用本文： | 刘宾礼,刘德志,唐勇,陈明.基于加速寿命试验的IGBT模块寿命预测和失效分析[J].江苏大学学报(自然科学版),2013,34(5). |
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| 作者姓名： | 刘宾礼 刘德志 唐勇 陈明 |
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| 作者单位： | 海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室,湖北武汉,430033 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
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| 摘 要： | 针对IGBT可靠性分析与寿命预测问题,提出了一种利用加速寿命试验对IGBT模块使用寿命进行预测的新方法.论述了加速寿命试验的原理与方法,提出采用对数正态分布描述IGBT模块的寿命分布,以阿伦尼斯模型为基础,利用极大似然估计法对试验数据进行统计与分析,建立了IGBT模块的寿命预测模型,实现了对正常应力下模块寿命的科学估计,并对IGBT模块的失效机理进行了详细分析.结果表明,IGBT模块寿命服从对数正态分布,纠正了以往认为其服从Weibull分布的错误思想.随结温差和平均结温的增大,IGBT模块寿命逐渐减小,并且当模块到达寿命终点时,其最终失效形式为热失效.
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| 关 键 词： | 加速寿命试验 统计分析 寿命分布 预测模型 失效机理 |
Lifetime prediction and failure analysis of IGBT module based on accelerated lifetime test |
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| Liu Binli
,
Liu Dezhi
,
Tang Yong
,
Chen Ming.Lifetime prediction and failure analysis of IGBT module based on accelerated lifetime test[J].Journal of Jiangsu University:Natural Science Edition,2013,34(5). |
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| Authors: | Liu Binli Liu Dezhi Tang Yong Chen Ming |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | accelerated lifetime test statistics and analysis lifetime distribution prediction model failure mechanism |
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