首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

两步广义相移的投影栅轮廓术
引用本文:周灿林,司书春,高成勇,雷振坤.两步广义相移的投影栅轮廓术[J].光电子.激光,2013(9):1784-1788.
作者姓名:周灿林  司书春  高成勇  雷振坤
作者单位:山东大学 物理学院,山东 济南 250100;山东大学 物理学院,山东 济南 250100;山东大学 物理学院,山东 济南 250100;大连理工大学 工程力学系,辽宁 大连 116024
基金项目:国家自然科学基金(11172054)、山东省中青年科学家奖励基金(2006BS04015)和山东省 科技攻关(2007GG30004010)资助项目 , 司书春1, 高成勇1, 雷振坤2(1.山东大学 物理学院,山东 济南 250100; 2.大连理工大学 工程力学系,辽宁 大连 116024)
摘    要:将两步广义相移法引入投影栅形貌测量,提出了 一种两步广义相移的投影栅轮廓术 。首先将2幅随机相移正弦条纹通过DLP投影仪投射到待测物体上,由CCD相机采集受物体形 貌调制的变形光栅条纹图;然后选择合适大小窗口经像素逐点均值法消除变形栅线图中的 背景 成分,利用栅线图灰度利用极值法、亚像素插和多点平均算法,准确提取2幅随机相移栅线 图的相移量;最后由求得的相移量和2幅消除了背景成分的栅线图,计算出与形貌对应的相 位数据。进行了实际测量,结果表明本文方法的可行性。

关 键 词:相移法    插值运算    相位测量轮廓术(PMD)    变形光栅图    相位去包裹
收稿时间:2013/1/12 0:00:00

Two-step generalized phase-shifting profilometry by grating projection
ZHOU Can-lin,SI Shu-chun,GAO Cheng-yong and LEI Zhen-kun.Two-step generalized phase-shifting profilometry by grating projection[J].Journal of Optoelectronics·laser,2013(9):1784-1788.
Authors:ZHOU Can-lin  SI Shu-chun  GAO Cheng-yong and LEI Zhen-kun
Affiliation:School of Physics,Shandong University,Jinan 250100,China;School of Physics,Shandong University,Jinan 250100,China;School of Physics,Shandong University,Jinan 250100,China;Department of E ngineering Mechanics,Dalian University of Technology,Dalian 116024,China
Abstract:
Keywords:phase-shifting algorithm  interpolation  phase measuring profilometry (PMP)  defromed fringe pattern  phase unwrapping
点击此处可从《光电子.激光》浏览原始摘要信息
点击此处可从《光电子.激光》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号