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InP系列多薄层异质结构材料的光致发光谱温度特性的实验研究
引用本文:丁国庆.InP系列多薄层异质结构材料的光致发光谱温度特性的实验研究[J].半导体学报,1997,18(8):592-597.
作者姓名:丁国庆
作者单位:武汉电信器件公司
摘    要:本报告了InP系列多薄层异质结构材料变温光致发光谱的正常及异常温度特性;观测到InGaAsP单层单量子阱室温下光致发光峰以却比10K下光致发光峰能高的实验事实。提出了外延层分为岛状,短程有序起始生长区,过渡区,多元均匀混晶区模型来解释PL谱低温下局部温度特性异常问题;认为PL谱反常温度特性与晶格驰豫有关。

关 键 词:半导体  磷化铟  光致发光谱  异质结构材料
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