InP系列多薄层异质结构材料的光致发光谱温度特性的实验研究 |
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引用本文: | 丁国庆.InP系列多薄层异质结构材料的光致发光谱温度特性的实验研究[J].半导体学报,1997,18(8):592-597. |
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作者姓名: | 丁国庆 |
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作者单位: | 武汉电信器件公司 |
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摘 要: | 本报告了InP系列多薄层异质结构材料变温光致发光谱的正常及异常温度特性;观测到InGaAsP单层单量子阱室温下光致发光峰以却比10K下光致发光峰能高的实验事实。提出了外延层分为岛状,短程有序起始生长区,过渡区,多元均匀混晶区模型来解释PL谱低温下局部温度特性异常问题;认为PL谱反常温度特性与晶格驰豫有关。
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关 键 词: | 半导体 磷化铟 光致发光谱 异质结构材料 |
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