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Easy calibration method of vision system for in-situ measurement of strain of thin films
Authors:Jun-Hyub PARK  Dong-Joong KANG  Myung-Soo SHIN  Sung-Jo LIM  Son-Cheol YU  Kwang-Soo LEE  Jong-Eun HA  Sung-Hoon CHOA
Abstract:
Keywords:thin film  automatic camera calibration  adaptive binarization  plane homography  mechanical properties  strain measurement
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