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| 微机C—V测试系统 | |
| 引用本文： | 武希君.微机C—V测试系统[J].自动化与仪表,1989(1):22-24. |
| 作者姓名： | 武希君 |
| 作者单位： | 河北工学院自动化系 天津市 |
| 摘 要： | 本文介绍用TP—801单板机与高频C—V特性测试仪组成的数据检测和处理系统。对TP—801单板机在数据处理方面的应用作了进一步的探讨,并介绍了系统的硬件配置和应用软件。图3幅。 |
| 关 键 词： | C－V测试系统 微机 检测 半导体材料 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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