|
|||||
|
|
| 基于红外热像的低零值绝缘子检测技术研究 | |
| 引用本文： | 何 良,刘书弟,张 禹,何宇航,周电波,姚 晓.基于红外热像的低零值绝缘子检测技术研究[J].四川电力技术,2018,41(2):72-75. |
| 作者姓名： | 何 良 刘书弟 张 禹 何宇航 周电波 姚 晓 |
| 作者单位： | 国网四川省电力公司电力科学研究院;华北电力大学;上海海能信息科技有限公司 |
| 摘 要： | 分析了绝缘子串的电压分布及发热功率,归纳了低零值绝缘子红外热像图谱特征,采用红外热像技术进行绝缘子带电检测,现场检测结果表明,红外热像技术可通过遥测绝缘子串温度特征来判断绝缘子绝缘性能。该种方法能有效发现低零值绝缘子,具有工作效率高、安全等优点。 |
| 关 键 词： | 绝缘子 红外热像 低零值 温度特征 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
| 点击此处可从《四川电力技术》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《四川电力技术》下载全文 | |
