| 铂钨含量对CoPtW永久磁性薄膜结构及磁性能的影响 |
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| 引用本文： | 葛洪良,崔玉建,黄丽红,蒋丽珍,江影.铂钨含量对CoPtW永久磁性薄膜结构及磁性能的影响[J].稀有金属,2003,27(5):555-557. |
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| 作者姓名： | 葛洪良 崔玉建 黄丽红 蒋丽珍 江影 |
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| 作者单位： | 中国计量学院物理系,浙江,杭州,310034 |
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| 基金项目： | 浙江省自然科学基金青年科技人才专项资金 (RC0 10 5 6)，教育部留学回国人员科研启动基金 |
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| 摘 要： | 研究了钴钨含量对CoPtW永久磁性薄膜结构及磁性能的影响。研究表明，P1 W的原子含量在10％-12％之间时对晶体的晶面间距影响较大，晶系发现变化。随着这一含量的增大，在样品表面垂直和平行磁场方向上的矫顽力差值变大。
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| 关 键 词： | 薄膜 磁性能 电化学 |
| 文章编号： | 0258-7076(2003)05-0555-03 |
| 修稿时间： | 2003年3月1日 |
Influence of Atomic Percentages (Pt+W) on Magnetic Properties of CoPtW Permanent Magnetic Thin Films |
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| Keywords: | thin film magnetic properties electrochemistry |
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