| KDP晶体应力数字式检测方法 |
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| 引用本文： | 魏小红,高波,李强,徐凯源,刘昂,柴立群.KDP晶体应力数字式检测方法[J].光电工程,2011,38(12):52-56. |
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| 作者姓名： | 魏小红 高波 李强 徐凯源 刘昂 柴立群 |
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| 作者单位： | 成都精密光学工程研究中心,成都,610041 |
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| 摘 要： | 使用高精度数字式应力仪测量KDP晶体的应力,给出整体应力分布.通过沿光轴方向测量,消除晶体.光和e光的双折射效应的影响,准确得到晶体材料自身的应力双折射分布.实验结果表明,测量重复性优于0.1nm/cm.对KDP晶体材料应力的高精度数字式检测对于加工和使用具有重要的指导意义.
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| 关 键 词： | 数字式应力仪 KDP晶体 应力双折射 光学检测 |
Digital Measurement of the Stress of KDP Crystal |
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| WEI Xiao-hong,GAO Bo,LI Qiang,XU Kai-yuan,LIU Ang,CHAI Li-qun.Digital Measurement of the Stress of KDP Crystal[J].Opto-Electronic Engineering,2011,38(12):52-56. |
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| Authors: | WEI Xiao-hong GAO Bo LI Qiang XU Kai-yuan LIU Ang CHAI Li-qun |
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