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| J750-PXI测试系统在射频芯片测试中的应用 | |
| 引用本文： | 李新鹏,张永林,吴磊.J750-PXI测试系统在射频芯片测试中的应用[J].硅谷,2012(17):26-27. |
| 作者姓名： | 李新鹏 张永林 吴磊 |
| 作者单位： | 江苏科技大学电子信息学院,江苏镇江,212003 |
| 摘 要： | 利用J750测试机台IG—xL开发环境，充分利用J750的数字信号给定和电压电流测量功能及PxI的射频信号收发功能，开发出一套适用于射频芯片量产化测试的系统。该系统具有价格低廉，测试精度高，稳定性好，测试速度快的特点。 |
| 关 键 词： | 芯片测试 J750 PXI |
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