光电测量设备光学系统像面照度均匀性检测方法 |
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引用本文: | 王力,沈湘衡.光电测量设备光学系统像面照度均匀性检测方法[J].光学精密工程,2008,16(12):2531-2536. |
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作者姓名: | 王力 沈湘衡 |
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作者单位: | 中国科学院长春精密机械与物理研究所;中国科学院研究生院。 |
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摘 要: | 提出了光电测量设备光学系统像面照度均匀性的检测方法,该方法首先对被检设备的CCD标定,然后用给出的均匀性检测系统对整机光学系统检测。该检测系统利用积分球产生均匀背景光信号,将光测设备置于积分球通光口处,利用计算机采集CCD图像。根据CCD的标定结果,用两点多段校正算法对采集到的图像进行校正,通过对校正后的图像进行分析,得到像面照度的不均匀度。并且将图像分为多个区域,计算各个区域的灰度与像面中心区域灰度的比值,得出图像的灰度分布,实现了光电测量设备光学系统像面照度均匀性的室内检测。
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关 键 词: | 像面照度不均匀度 光学镜头 CCD校正 积分球 |
收稿时间: | 2008-07-29 |
修稿时间: | 2008-10-01 |
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