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光电测量设备光学系统像面照度均匀性检测方法
引用本文:王力,沈湘衡.光电测量设备光学系统像面照度均匀性检测方法[J].光学精密工程,2008,16(12):2531-2536.
作者姓名:王力  沈湘衡
作者单位:中国科学院长春精密机械与物理研究所;中国科学院研究生院。
摘    要:提出了光电测量设备光学系统像面照度均匀性的检测方法,该方法首先对被检设备的CCD标定,然后用给出的均匀性检测系统对整机光学系统检测。该检测系统利用积分球产生均匀背景光信号,将光测设备置于积分球通光口处,利用计算机采集CCD图像。根据CCD的标定结果,用两点多段校正算法对采集到的图像进行校正,通过对校正后的图像进行分析,得到像面照度的不均匀度。并且将图像分为多个区域,计算各个区域的灰度与像面中心区域灰度的比值,得出图像的灰度分布,实现了光电测量设备光学系统像面照度均匀性的室内检测。

关 键 词:像面照度不均匀度  光学镜头  CCD校正  积分球
收稿时间:2008-07-29
修稿时间:2008-10-01
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