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双角度编码器超精密转台测角误差校准
引用本文:焦扬,黄明,刘品宽,李梦阳,秦代成.双角度编码器超精密转台测角误差校准[J].光学精密工程,2019,27(10).
作者姓名:焦扬  黄明  刘品宽  李梦阳  秦代成
作者单位:上海交通大学机械与动力工程学院,上海,200240;上海交通大学机械与动力工程学院,上海200240;中国工程物理研究院机械制造工艺研究所,四川绵阳621900
基金项目:国家科学挑战计划资助项目;国家自然科学基金;国家科技重大专项
摘    要:为了提高超精密角度计量转台的测量精度,对转台所用编码器分度误差与细分误差的校准展开研究。首先,介绍了转台的结构,设计了方便进行相互比对的双角度编码器测角系统并描述了其多读数头布置方式。然后,基于直接比较法与自校准法进行了双编码器分度误差的快速、高精度校准。最后,借助精密电容式位移传感器测量系统,利用比较法检测了两套编码器各读数头的单信号周期测量误差。校准结果显示:采用双读数头均布的第一套编码器的分度误差为±0.27″,细分误差在±0.1″以内;基于四读数头均布方式进行测量的第二套编码器分度误差为±0.17″,细分误差在±0.2″以内;两套编码器的测量精度皆为亚角秒级。双编码器相互比对的校准方式有助于对转台的测角误差进行全面、准确地评估。

关 键 词:精密转台  角度编码器  分度误差  细分误差  角度校准
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