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| 采用AI理论降低电子设备BIT虚警率 | |
| 引用本文： | 温熙森,徐永成.采用AI理论降低电子设备BIT虚警率[J].测控技术,1998,17(4):31-33. |
| 作者姓名： | 温熙森 徐永成 |
| 作者单位： | 长沙国防科技大学机械电子工程与仪器系 |
| 摘 要： | 简要介绍电子设备ＢＩＴ发展状况并分析了ＢＩＴ虚警产生的原因，提出采用模糊专家系统（ＦＥＳ）结合综合环境试验发现产生电子设备ＢＩＴ虚警的工艺和设计缺陷；并对竞争神经网络在电子设备ＢＩＴ运行过程中出现虚警识别进行了研究，结果表明可以有效降低电子设备ＢＩＴ虚警率。 |
| 关 键 词： | BIT 神经网络 人工智能 虚警率 电子设备 |
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