| CTIA读出方式的微测辐射热计 |
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| 引用本文： | 孟丽娅,袁祥辉,吕果林,黄友恕.CTIA读出方式的微测辐射热计[J].光电工程,2005,32(8):81-84. |
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| 作者姓名： | 孟丽娅 袁祥辉 吕果林 黄友恕 |
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| 作者单位： | 重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044;重庆大学,光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400044 |
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| 摘 要： | 在微测辐射热计热敏元的热平衡模型基础上,分析了CTIA读出方式的微测辐射热计在不同背景和衬底温度下的输出响应率,仿真了探测器面阵在偏移-增益两点校正法校正后的输出。为衡量不同衬底温度下校正后残余非均匀性噪声的大小,考虑到响应率随背景温度和衬底温度变化的因素,提出了非均匀性噪声等效功率(NNEP)指标。研究结果表明,在采用20μs积分时间和5pF积分电容时,探测元响应率可以达到106V/W到107V/W;衬底温度的变化在约0.01K以内时,采用两点校正法可以对该读出方式的微测辐射热计输出进行良好的校正。
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| 关 键 词： | 微测辐射热计 CTIA 响应率 温度相关 |
| 文章编号： | 1003-501X(2005)08-0081-04 |
| 收稿时间： | 2004-10-10 |
| 修稿时间： | 2005-03-09 |
Microbolometer read out with CTIA method |
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| MENG Li-ya,YUAN Xiang-hui,L Guo-lin,HUANG You-shu.Microbolometer read out with CTIA method[J].Opto-Electronic Engineering,2005,32(8):81-84. |
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| Authors: | MENG Li-ya YUAN Xiang-hui L Guo-lin HUANG You-shu |
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| Affiliation: | MENG Li-ya,YUAN Xiang-hui,L(U) Guo-lin,HUANG You-shu |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | CTIA |
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