基于RFEM的电子元器件技术状态更改风险评估 |
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引用本文: | 江凯,肖梦燕,黄鹏,孙宇,周帅,王小强,王斌.基于RFEM的电子元器件技术状态更改风险评估[J].电子产品可靠性与环境试验,2023(1):5-8. |
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作者姓名: | 江凯 肖梦燕 黄鹏 孙宇 周帅 王小强 王斌 |
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作者单位: | 工业和信息化部电子第五研究所 |
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摘 要: | 电子元器件技术状态更改是研发制造型企业在产品设计、生产和维护中经常碰到的问题。研制单位对生产加工的部分环节如关键原材料、工艺等进行更改时,往往未对该技术状态更改的效果进行专业的风险评估,从而导致更改的效果不佳,影响产品质量。针对电子元器件技术状态更改的不确定性,基于风险因子模糊评价法(RFEM),计算风险概率和风险后果影响程度来确定更改的风险情况,从而为电子元器件技术状态更改采取相应的风险控制提供了科学的决策依据。
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关 键 词: | 电子元器件 技术状态 风险评估 风险因子模糊综合评价法 |
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