| 基于遗传算法的数字电路测试生成方法 |
| |
| 引用本文： | 陈光禹,潘中良.基于遗传算法的数字电路测试生成方法[J].电子学报,1997(4). |
| |
| 作者姓名： | 陈光禹 潘中良 |
| |
| 作者单位： | 电子科技大学ＣＡＴ研究室 |
| |
| 摘 要： | 本文提出了一种基于遗传算法的数字电路测试图形生成方法，首先把被测电路的门级描述转化为易于计算的非线性网络，然后用遗传算法找到网络能量函数的最优解，从而得到被测电路的测试集．这种方法对可测故障都能生成测试，能方便地产生多故障的测试图形，同时具有较好的并行性，易于在多处理机上实现．
|
| 关 键 词： | 数字电路，测试生成，遗传算法，专家系统 |
A Circuit Test Generation Approach Based on Genetic Algorithm |
| |
| Chen Guangju,Pan Zhongliang.A Circuit Test Generation Approach Based on Genetic Algorithm[J].Acta Electronica Sinica,1997(4). |
| |
| Authors: | Chen Guangju Pan Zhongliang |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | Digital circuit Test generation Genetic algorithm Expert system |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
