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| WLAN设备在2300～2400MHz频段带外杂散测试及影响评估 | |
| 引用本文： | 梁童,孟德香,何继伟,张冬晨.WLAN设备在2300～2400MHz频段带外杂散测试及影响评估[J].电信工程技术与标准化,2011,24(4):36-40. |
| 作者姓名： | 梁童 孟德香 何继伟 张冬晨 |
| 作者单位： | 中国移动通信集团设计院有限公司,北京,100080 |
| 摘 要： | 随着WLAN的应用越来越广泛,其设备性能对工作于相邻频段的TD-LTE系统的干扰问题也逐渐引起我们的关注.本文主要介绍了多种常见的WLAN设备在2300～2400MHz频段的带外功率泄露测试,结合测试结果分析了WLAN设备带外杂散性能,通过理论计算和系统级动态仿真两种方法评估了WLAN对TD-LTE性能的影响. |
| 关 键 词： | WLAN TD-LTE 杂散辐射 |
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