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| ASIC对测试技术的挑战 | |
| 引用本文： | 徐中佑.ASIC对测试技术的挑战[J].微处理机,1994(1):10-12. |
| 作者姓名： | 徐中佑 |
| 作者单位： | 电子工业部东北微电子研究所!沈阳，110032 |
| 摘 要： | 本文介绍和分析了当今ASIC发展引起的各种测试难题及其解决办法，包括可测性设计，测试码生成及ASIC测试系统。强调了ASIC的CAT和CAD相结合的发展方针。 |
| 关 键 词： | ASIC 集成电路 测试 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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