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基于局部二值模式方法的USM锐化图像检验
引用本文:全永志,高树辉,杨孟京,姜晓佳,何欣龙.基于局部二值模式方法的USM锐化图像检验[J].激光与光电子学进展,2019,56(12):57-62.
作者姓名:全永志  高树辉  杨孟京  姜晓佳  何欣龙
作者单位:中国人民公安大学刑事科学技术学院,北京,100038;中国人民公安大学刑事科学技术学院,北京,100038;中国人民公安大学刑事科学技术学院,北京,100038;中国人民公安大学刑事科学技术学院,北京,100038;中国人民公安大学刑事科学技术学院,北京,100038
基金项目:中国人民公安大学基本科研业务费;上海市开放实验室
摘    要:提出一种反锐化掩模(USM)锐化检验方法。采用局部二值模式方法(LBP)检测图像边缘特征,利用支持向量机进行分类,然后检测图像是否被锐化。针对不同的锐化强度,对比不同LBP检测模式,筛选出最优检测方式。实验结果表明,LBP方法能达到较好的USM锐化检测效果,其中旋转不变模式的检测效果最好,在弱锐化情况下检出率仍能达到90%,优于现有文献中各类方法的检测性能。

关 键 词:图像处理  反锐化掩模锐化  局部二值模式  支持向量机

USM Sharpening Image Detection Based on Local Binary Pattern Method
Quan Yongzhi,Gao Shuhui,Yang Mengjing,Jiang Xiaojia,He Xinlong.USM Sharpening Image Detection Based on Local Binary Pattern Method[J].Laser & Optoelectronics Progress,2019,56(12):57-62.
Authors:Quan Yongzhi  Gao Shuhui  Yang Mengjing  Jiang Xiaojia  He Xinlong
Affiliation:(School of Forensic Science,People's Public Security University of China,Beijing 100038,China)
Abstract:Quan Yongzhi;Gao Shuhui;Yang Mengjing;Jiang Xiaojia;He Xinlong(School of Forensic Science,People's Public Security University of China,Beijing 100038,China)
Keywords:image processing  unsharp masking sharpening  local binary pattern  support vector machine
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
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