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| Na_(5+x)YAI_xSi_(4-x)O_2快离子导体的导电机理 | |
| 引用本文： | 崔万秋,邹贇.Na_(5+x)YAI_xSi_(4-x)O_2快离子导体的导电机理[J].硅酸盐通报,1988(5). |
| 作者姓名： | 崔万秋 邹贇 |
| 作者单位： | 武汉工业大学硅工系 (崔万秋)，武汉工业大学硅工系(邹贇) |
| 摘 要： | Na_(5+x)YAl_xSi_(4-x)O_(12)(NYAS)快离子导体中的铝、钇、硅、氧及部分钠离子堆积组成了独特的刚性结构,使之在其环与环之间、柱与柱之间形成了传导通道。另一部分钠离子很容易在通道中迂移传导,因而这类离子导体具有很高的离子电导率。本文从传导机理出发,计算了NYAS中的载流子浓度值,其结果与实验值接近,并从传导机理及简单跳跃模型出发,推出了NYAS中的离子电导率与组成X的变化趋势,获得了与实验结果完全吻合的结论。 |
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