薄膜热扩散率及耦合层厚度的光声检测 |
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引用本文: | 钱梦騄,章罕,魏墨盦.薄膜热扩散率及耦合层厚度的光声检测[J].声学技术,1992,11(3):6-9. |
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作者姓名: | 钱梦騄 章罕 魏墨盦 |
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作者单位: | 同济大学声学研究所
(钱梦騄,章罕),同济大学声学研究所(魏墨盦) |
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摘 要: | 从一维四层煤质模型出发,在只考虑试样吸收光的假设下,得出传声器检测时空气中的光声信号的相位响应。由此对厚度为20μm的铝膜和4μm的镍膜的热扩散率进行了测定,并对薄膜与背衬之间的油耦合层作了估算。实验结果表明光声技术不仅可用来检测分层媒质表面层材料的热物性,而且还有可能估测内层煤质的厚度或热扩散率。
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关 键 词: | 薄膜 热扩散率 耦合层 光声检测 |
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