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| 单片机实现的数字集成电路功能测试系统 | |
| 引用本文： | 张起贵,郑静.单片机实现的数字集成电路功能测试系统[J].电子工艺技术,1995(4):31-33. |
| 作者姓名： | 张起贵 郑静 |
| 作者单位： | 太原工业大学，山西省电子工业学校 |
| 摘 要： | 在对大量ＴＴＬ、ＣＭＯＳ集成电路统计、分析和编码的基础上，利用功能验证测试算法建立ＩＣ测试数据库。用单片机完成测试的软、硬件设计。 |
| 关 键 词： | 数字集成电路 测试 单片机 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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