首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

高速模数转换器动态偏置误差检测的双谱方法
引用本文:林茂六,高晓明.高速模数转换器动态偏置误差检测的双谱方法[J].电子测量与仪器学报,1995,9(1):27-32.
作者姓名:林茂六  高晓明
作者单位:哈尔滨工业大学无线电工程系!哈尔滨,150006,哈尔滨工业大学无线电工程系!哈尔滨,150006,哈尔滨工业大学无线电工程系!哈尔滨,150006
摘    要:本文给出了考虑噪声和动态误差时的高速模数转换器(ADC)的动态传输模型。提出了利用双谱分析高速ADC动态偏置误差的方法。同时,指出双谱方法可以明显地减小ADC噪声本底对微小偏置误差测量的影响,提高测量的灵敏度和精度。最后给出的计算机模拟测试结果表明,双谱法比功率法具有更高的检测分辨率和抗噪声能力。

关 键 词:偏置误差  双谱法  模-数转换器  误差检测

Testing the Dynamic Offset Error of High Speed Analog to Digital Converter Using the Bispectrum Method
Lin Maoliu ,Gao Xiaoming, Sun Shenghe.Testing the Dynamic Offset Error of High Speed Analog to Digital Converter Using the Bispectrum Method[J].Journal of Electronic Measurement and Instrument,1995,9(1):27-32.
Authors:Lin Maoliu  Gao Xiaoming  Sun Shenghe
Abstract:This paper first gives the dynamic model of high speed analog to digital converter (ADC)when concerning noise and dynamic offsct error.Secondly,we use bispectrum to analyze the dynamic offset error of high speed ADC,point that the bispectrum method can greatly reduce the effect of the noise floor on the offset error testing,and improve the testing sensitivity and accuracy.The simulation experiment shows that the bispectrum method has the advantage of high testing sensitivity and insensitivity to noise.
Keywords:Analog to digital converter  Offset error  Bispectrum
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号