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抗总剂量Boost型 DC-DC转换器设计
引用本文:刘智,宁红英,于洪波,刘佑宝.抗总剂量Boost型 DC-DC转换器设计[J].半导体学报,2011,32(7):075006-6.
作者姓名:刘智  宁红英  于洪波  刘佑宝
作者单位:西安微电子技术研究所
基金项目:总装备部“十一五”预研项目
摘    要:采用设计加固方法,基于标准商业0.35微米CMOS工艺,设计了抗总剂量Boost型 DC-DC转换器芯片。从系统设计角度出发,综合采用了同步整流、高开关频率、自适应动态斜坡补偿等技术提高DC-DC转换器性能和抗辐照能力;分别从电路级和器件级对转换器进行了加固设计。考虑DC-DC转换器总剂量效应,电路级加固分别从模拟电路加固和数字电路加固着手;提高环路稳定裕度,有效的提高转换器反馈环路的抗总剂量能力。为有效的降低场区辐射寄生漏电,器件级采取的加固措施是转换器的控制部分MOS管采用H栅实现,输出功率MOS管采用环形栅实现。辐照实验结果表明,设计的抗总剂量Boost型 DC-DC转换器在总剂量超过120 krad (Si )后才出现功能失效,而非加固的电路在总剂量超过80 krad (Si )后才出现功能失效;加固电路的辐照后电流明显小于非加固电路;加固电路的辐照后效率也高于非加固电路。

关 键 词:CMOS工艺  总剂量辐射  升压转换器  加固设计  DC  硬化  单片  MOS晶体管

Design of a Total-Dose Radiation Hardened Monolithic CMOS DC-DC Boost Converter
Liu Zhi,Ning Hongying,Yu Hongbo and Liu Youbao.Design of a Total-Dose Radiation Hardened Monolithic CMOS DC-DC Boost Converter[J].Chinese Journal of Semiconductors,2011,32(7):075006-6.
Authors:Liu Zhi  Ning Hongying  Yu Hongbo and Liu Youbao
Affiliation:1 Xi'an Institute of Microelectronics Technology,Xi'an 710054,China 2 Xi'an TAIYI Electronic Co.,Ltd,Xi'an 710054,China 3 Xi'an University of Technology,Xi'an 710048,China
Abstract:
Keywords:DC-DC Power Converter  Boost Converter  PWM  Radiation-Hardening by Design  Radiation Hardened    Total Dose
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