首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

基于H指数的全球企业专利计量分析
引用本文:佟贺丰,曹燕.基于H指数的全球企业专利计量分析[J].全球科技经济瞭望,2013(1).
作者姓名:佟贺丰  曹燕
作者单位:中国科学技术信息研究所,北京 100038
摘    要:通过对美国专利商标局的专利数据,计算不同时间段和技术领域内全球企业的H指数,对全球企业的技术竞争力做出分析和判断.研究发现:分时间段和分领域的的H指数更加有利于判断企业技术竞争力的变迁;国际技术竞争激烈,企业要保持竞争力需要专利数量与质量并重;中国企业与国际差距显著,在H指数、专利数量和专利被引次数方面,中国企业都远落后于发达国家,急需抓住一两个领域先形成一定的竞争优势,然后加以引导和示范,才可能突出重围.

关 键 词:H指数  专利分析  专利计量  技术竞争力  美国专利商标局

A Patentometric Analysis of Global Enterprises Based on H Index
Abstract:
Keywords:H-index  patent analysis  patentometrics  technological competitiveness  USPTO
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号