| 精密LCR测试技术研究 |
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| 引用本文： | 陈德智,蔡文海,齐虹,陈芳.精密LCR测试技术研究[J].计量学报,2003,24(4):330-333. |
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| 作者姓名： | 陈德智 蔡文海 齐虹 陈芳 |
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| 作者单位： | 信息产业部电子第41研究所,安徽,蚌埠,233006 |
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| 基金项目： | 信息产业部电子科学研究院基金 |
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| 摘 要： | 介绍了一种L、C、R测试系统,可以在75kHz～30MHz频率范围内对元器件进行精密测量。阐述了测试系统中的关键技术:包括自动平衡电桥法阻抗测量技术、75kHz～30MHz频率合成源技术、自动电平控制技术、鉴相及矢量测量技术、A D变换技术和四端对结构。研究了测试系统的误差来源及消除误差的方法,给出了系统的校准件的数学模型,并据此模型对系统的分布参量误差、频响误差等进行测量校准。最后给出了实验结果,系统的准确度为0 1%,被测件DUT上所加信号频率为75kHz～30MHz,以100Hz步进,幅度在5mV～2V范围内连续可调。
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| 关 键 词： | 计量学 阻抗测量 自动平衡电桥 电平控制 四端对 |
| 文章编号： | 1000-1158(2003)04-0330-04 |
| 修稿时间： | 2002年5月3日 |
The Development of a Precision LCR Test Set |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Metrology Impedance measurement Autobalancing bridge Automatic level control Four-terminal pair |
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