激光跟踪测距中的测量检验技术

介绍了利用半导体光源可达秒级的激光跟踪误差斜率曲线测量系统，阵列式激光光束光强分布测试仪和与激光跟踪测距接收机数据采集与处理的接口和打印，Ｉ／Ｏ接口等。成为激光中开程任务设备装配检验和测量的依托手段，给出误差斜率曲线的测试结果。