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| 关于高频Q表技术性能的评价 | |
| 引用本文： | 张关汉.关于高频Q表技术性能的评价[J].计量技术,1981(5). |
| 作者姓名： | 张关汉 |
| 作者单位： | 中国计量科学研究院无线电室 |
| 摘 要： | 本文介绍通过对残量影响的修正来解决不同型号Q表测量同一被测量时的数据差异问题,并讨论如何评价Q表的测量精度以及如何改进Q表设计的问题。 1.高频Q表的设计和测量特点 Q表的测量原理是基于被测元件和内部标准电容器产生串联谐振。其原理电路示于图1 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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