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Kr:F准分子激光对釉质表面作用的喇曼光谱分析
引用本文:李群,施英,张鹏翔,梁昆惠.Kr:F准分子激光对釉质表面作用的喇曼光谱分析[J].牙体牙髓牙周病学杂志,2001,11(4):264.
作者姓名:李群  施英  张鹏翔  梁昆惠
作者单位:1. 昆明医学院第一附属医院
2. 理工大学理学院
3. 理工大学材料与冶金工程学院
摘    要:用Kr:F准分子激光 (2 48nm)照射釉质时 ,引起釉质表面光化学反应的同时不产生高热量 ,不造成釉质表面出现裂纹或焦化1] 。本组就准分子激光对釉质表面的作用进行喇曼光谱分析 ,分析表明 ,激光可破坏釉质中羟基磷灰石中的化学键 ,可能产生脱矿效应。1 材料和方法1.1 标本备制取无龋上颌第三磨牙 ,清洁 ,干燥后 ,将其固定于样品台上。1.2 首先使用γ =5 14.5nm的显微共焦喇曼光谱仪 (MK -10 0 0型 ,Renishaw公司 ,英国 )测试原样品颊面釉质谱线。谱线分为两个波段进行记录 ,2 0 0~ 80 0cm-1和 80 0~ 180 0cm-1。测…

关 键 词:KrF准分子激光  釉质  喇曼光谱
文章编号:1005-2593(2001)04-0264-02
修稿时间:2001年3月12日
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