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一种双稳态电磁型射频MEMS开关的设计与测试
引用本文:李慧娟,杨子健,孙建,郝长岭,禹继芳.一种双稳态电磁型射频MEMS开关的设计与测试[J].半导体技术,2015,40(2):117-122.
作者姓名:李慧娟  杨子健  孙建  郝长岭  禹继芳
作者单位:北京航天微机电技术研究所,北京,100094;北京航天微机电技术研究所,北京,100094;北京航天微机电技术研究所,北京,100094;北京航天微机电技术研究所,北京,100094;北京航天微机电技术研究所,北京,100094
摘    要:设计了一种低电压驱动的双稳态电磁型射频MEMS开关.与驱动电压高这几十伏的静电型射频MEMS开关相比,其驱动电压可低至几伏,因此应用时无需增加电荷泵等升压电路.开关可在磁场驱动下实现双稳态切换,稳态时无直流功率消耗.分析了工作磁场的分布特点,进行了结构设计仿真;并使用HFSS软件和粒子群算法进行了射频参数仿真、结构参数优化及主要结构参数显著性研究,得出了影响开关射频传输性能的主要结构参数;采用表面牺牲层工艺制作了原理样机并进行了射频性能参数的测试.结果表明,开关样机在DC~3 GHz工作频率区间内,插入损耗小于0.25 dB,隔离度大于40 dB.

关 键 词:微电子机械系统(MEMS)  射频开关  插入损耗  隔离度  测试

Design and Test of a Bistable Electromagnetic RF MEMS Switch
Li Huijuan;Yang Zijian;Sun Jian;Hao Changling;Yu Jifang.Design and Test of a Bistable Electromagnetic RF MEMS Switch[J].Semiconductor Technology,2015,40(2):117-122.
Authors:Li Huijuan;Yang Zijian;Sun Jian;Hao Changling;Yu Jifang
Affiliation:Li Huijuan;Yang Zijian;Sun Jian;Hao Changling;Yu Jifang;Beijing Aerospace Micromechanical Electronics Technology Institute;
Abstract:
Keywords:micro-electromechanical system (MEMS)  radio frequency switch  insertion loss  isolation  test
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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