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基于DSP的高速原子力显微镜系统
引用本文:李敏,韩立,林云生,左燕生,方光荣.基于DSP的高速原子力显微镜系统[J].电子显微学报,2007,26(1):40-43.
作者姓名:李敏  韩立  林云生  左燕生  方光荣
作者单位:1. 中国科学院电工研究所,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100039
2. 中国科学院电工研究所,北京,100080
摘    要:传统的以PC机为控制核心的AFM(atomic force microscope)越来越无法满足快速成像的要求,具有先进控制系统的高速AFM正成为国内外的一个研究热点.本文介绍了一种以DSP(digital signal processor)为控制核心的AFM系统.在该系统中,自动进针/退针、扫描电压的产生、A/D采样、D/A输出以及数字闭环反馈控制等任务均在DSP控制下完成;在分辨率为512×512时,可以获得行频55 Hz的扫描速度.实验表明,即便在这样高速扫描的情况下,该系统仍具有良好的成像性能.

关 键 词:高速原子力显微镜  AFM  DSP
文章编号:1000-6281(2007)01-0040-04
修稿时间:2006-09-01

A high speed atomic force microscope system based on DSP
LI Min,HAN Li,LIN Yun-sheng,ZUO Yan-sheng,FANG Guang-rong.A high speed atomic force microscope system based on DSP[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2007,26(1):40-43.
Authors:LI Min  HAN Li  LIN Yun-sheng  ZUO Yan-sheng  FANG Guang-rong
Affiliation:1.Institute of Electrical Engineering,CAS Beijing 100080;2.GUCAS,Beijing 100039
Abstract:
Keywords:high speed atomic force microscope  AFM  DSP
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