首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

蓝宝石衬底AlGaN/GaN HFET功率特性
引用本文:张志国,杨瑞霞,李丽,冯震,王勇,杨克武.蓝宝石衬底AlGaN/GaN HFET功率特性[J].半导体学报,2006,27(7).
作者姓名:张志国  杨瑞霞  李丽  冯震  王勇  杨克武
作者单位:1. 河北工业大学信息工程学院,天津,300130;中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄,050051
2. 河北工业大学信息工程学院,天津,300130
3. 中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄,050051
基金项目:科技部科研项目,国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:通过台面隔离与注入隔离结合的方法,解决了由于GaN外延材料缓冲层质量差造成的AlGaN/GaN HFET击穿电压低的问题.通过优化的500℃/50s栅退火条件,改善Ni-AlGaN/GaN二极管特性,理想因子和势垒高度分别优化到1.5和0.87eV.通过改进AlGaN/GaN HFET制备工艺,得到提高器件输出功率的优化工艺,采用这一工艺制备的蓝宝石衬底总栅宽为1mm,器件在频率为8GHz时输出功率达到4.57W,功率附加效率为55.1%.

关 键 词:AlGaN/GaN  HFET  隔离  整流特性  退火  输出功率

Output Power of an AlGaN/GaN HFET on Sapphire Substrate
Zhang Zhiguo,Yang Ruixia,Li Li,Feng Zhen,Wang Yong,Yang Kewu.Output Power of an AlGaN/GaN HFET on Sapphire Substrate[J].Chinese Journal of Semiconductors,2006,27(7).
Authors:Zhang Zhiguo  Yang Ruixia  Li Li  Feng Zhen  Wang Yong  Yang Kewu
Abstract:
Keywords:
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《半导体学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号