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UV-LIGA技术在多层微结构制备中的工艺研究
引用本文:朱军,汪红,陈翔,陈迪,刘景全.UV-LIGA技术在多层微结构制备中的工艺研究[J].压电与声光,2009,31(5).
作者姓名:朱军  汪红  陈翔  陈迪  刘景全
作者单位:上海交通大学,微纳科学技术研究院,上海,200030
基金项目:国家重点实验室基金资助项目 
摘    要:UV-LIGA技术在制备多层复杂微结构时存在如何确保多层套刻对准精度,尺寸控制精度及层间良好结合的问题.该文对这些问题进行了分析与实验研究,实验证明,弱曝光是产生层间位移,影响套刻精度的原因之一,减少曝光所产生的应力应以不发生位移为前提;降低升降温速率能有效降低应力,提高层间结合性能,从而减少图形位移,确保套刻对准的精度.

关 键 词:多层  套刻精度  曝光  中烘

The Process Study of UV-LIGA on the Manufacture of Multilayer MEMS Structure
ZHU Jun,WANG Hong,CHEN Xiang,CHEN Di,LIU Jing-quan.The Process Study of UV-LIGA on the Manufacture of Multilayer MEMS Structure[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2009,31(5).
Authors:ZHU Jun  WANG Hong  CHEN Xiang  CHEN Di  LIU Jing-quan
Abstract:
Keywords:UV-LIGA
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