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| 在高频下测量介电系数、介质损失角正切 | |
| 作者单位： | 西安交通大学绝缘教研室 |
| 摘 要： | 随着频率提高,给要准确地测量绝缘材料的ε和tgδ带来了更多的困难,不同的设备不同的测量方法和不同的电极(结构,材料)都会对测量结果带来明显的差异,为了观察和分析各种影响因素,我们在不同设备上用不同的方法和电极进行了比较。Ⅰ.在设备的比较方面我们做了以下试验: 一、用同一线圈在不同Q表上测出其Q值,观察各台Q表谐振回路(除了线圈之外)的Q值。另外从各台Q表线圈中取电感量相同的线圈在同一台Q表(QBG-3)上测得Q值,以比较各台Q表线圈的Q值。此外还测得在同一线圈下各台Q表的“零”电容C。测得的数 |
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