| 银河飞腾DSP芯片总剂量辐照试验研究 |
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| 引用本文： | 邢克飞,王跃科,扈啸.银河飞腾DSP芯片总剂量辐照试验研究[J].半导体技术,2006,31(7):493-494,505. |
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| 作者姓名： | 邢克飞 王跃科 扈啸 |
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| 作者单位： | 国防科技大学,机电工程与自动化学院,长沙,410073;国防科技大学,计算机学院,长沙,410073 |
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| 摘 要： | 利用60Co产生γ射线辐射场对国产银河飞腾DSP的总剂量效应进行了初步试验.建立了一个辐射环境下银河飞腾DSP芯片功能检测的计算机测量平台,对不同剂量率(2～10 rad(Si)/s)、不同积累剂量情况下,银河飞腾DSP的存储器、数据总线等进行了测试.试验结果表明,银河飞腾DSP在总剂量115.2 k rad(Si)情况下存储器读取和CPU内核运行功能正常.
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| 关 键 词： | 银河飞腾DSP 60Co γ射线 辐射总剂量 |
| 文章编号： | 1003-353X（2006）07-0493-02 |
| 收稿时间： | 2006-02-23 |
| 修稿时间： | 2006-02-23 |
Total Ionizing Dose Effects Test of Domastic High Quality Device YHFT-DSP |
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| XING Ke-fei,WANG Yue-ke,HU Xiao.Total Ionizing Dose Effects Test of Domastic High Quality Device YHFT-DSP[J].Semiconductor Technology,2006,31(7):493-494,505. |
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| Authors: | XING Ke-fei WANG Yue-ke HU Xiao |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | YHFT-DSP ^60Co Y-ray radiation total dose |
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