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一种新型的材料内应力测试方法——偏振透射差分法
引用本文:赵玲慧,陈涌海.一种新型的材料内应力测试方法——偏振透射差分法[J].半导体学报,2007,28(Z1).
作者姓名:赵玲慧  陈涌海
作者单位:中国科学院半导体研究所,北京,100083
摘    要:采用一种全新的偏振透射差分法-PTD(polarization transmittance difference)法来测量半导体衬底材料的内应力分布.由于该方法使用了偏振调制技术,无需旋转样品或者偏振元件进行多次测量,使得测量过程变得简单、迅速,并准确给出整体材料的内应力二维分布图.此方法属于无损测试.

关 键 词:偏振透射差分  内应力  弹光效应  光弹性调制器

A New Method for Testing Inner Strains of Semiconductor Substrate Materials——Polarization Transmittance Difference
Zhao Linghui,Chen Yonghai.A New Method for Testing Inner Strains of Semiconductor Substrate Materials——Polarization Transmittance Difference[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(Z1).
Authors:Zhao Linghui  Chen Yonghai
Abstract:
Keywords:
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