| 基于实际结温分布中小电流过趋热效应的验证 |
| |
| 引用本文： | 朱阳军,苗庆海,张兴华,卢烁今.基于实际结温分布中小电流过趋热效应的验证[J].半导体学报,2007,28(7). |
| |
| 作者姓名： | 朱阳军 苗庆海 张兴华 卢烁今 |
| |
| 作者单位： | 1. 山东大学物理与微电子学院,济南,250100;School of Computer Engineering,Nanyang Technological University,Singapore 639798,Singapore
2. 山东大学物理与微电子学院,济南,250100 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金，国家留学基金 |
| |
| 摘 要： | 对于从红外热像图得到的实际的晶体管结温分布,通过热谱分析方法获得该温度分布对应的热谱曲线,进而建立了晶体管子管并联模型,并在此基础上,经过实验和理论计算证实了pn结中小电流过趋热效应存在的真实性.当结温分布不均匀时,对于通过pn结的电流,小电流比大电流更具有趋热性.即电流越小,高温区与低温区电流密度的比值越大,电流越集中在高温区,且集中区域的面积随着电流的减小而缩小.利用这一特性可以研究器件热电不稳定性,结温分布的不均匀性及不均匀度,峰值结温的估算等,这对于半导体器件可靠性分析具有重要的意义.
|
| 关 键 词： | 热谱曲线 电流密度 过趋热性 有效面积 |
Verification of the Excessive Thermotaxis Effect of Low Current Based on Actual Junction Temperature Distribution |
| |
| Zhu Yangjun,Miao Qinghai,Zhang Xinghua,Lu Shuojin.Verification of the Excessive Thermotaxis Effect of Low Current Based on Actual Junction Temperature Distribution[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(7). |
| |
| Authors: | Zhu Yangjun Miao Qinghai Zhang Xinghua Lu Shuojin |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《半导体学报》下载全文 |
|
