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硅基微纳光子器件制备工艺问题及解决方案
引用本文:陈少武,屠晓光,余和军,樊中朝,徐学俊,余金中.硅基微纳光子器件制备工艺问题及解决方案[J].半导体学报,2007,28(Z1).
作者姓名:陈少武  屠晓光  余和军  樊中朝  徐学俊  余金中
作者单位:中国科学院半导体研究所,集成光电子国家重点实验室,北京,100083
摘    要:讨论了硅基微纳光子器件制备过程中涉及的几个关键工艺问题,包括:电子束/光学光刻的电子束/光学邻近效应;纳米线光波导ICP-RIE刻蚀的侧壁粗糙问题;光栅及MOS绝缘栅氧化硅填充致密度问题.这些问题可影响器件的结构均匀性、波导传输损耗、光栅的散射损耗以及MOS绝缘栅的绝缘性能.在分析实验结果的基础上,提出了一些解决方案.

关 键 词:硅基微纳光子器件  电子束/光学邻近效应  ICP-RIE刻蚀  光波导侧壁粗糙度  CVD

Challenges and Solution of Fabrication Techniques for Silicon-Based Nano-Photonics Devices
Chen Shaowu,Tu Xiaoguang,Yu Hejun,Fan Zhongchao,Xu Xuejun,Yu Jinzhong.Challenges and Solution of Fabrication Techniques for Silicon-Based Nano-Photonics Devices[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(Z1).
Authors:Chen Shaowu  Tu Xiaoguang  Yu Hejun  Fan Zhongchao  Xu Xuejun  Yu Jinzhong
Abstract:
Keywords:
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