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| 生丝截面积的光电检测方法研究 | |
| 引用本文： | 费万春,朱亚一,崔晓丽,徐回祥,周望,朱美男,李春萍.生丝截面积的光电检测方法研究[J].纺织学报,2002,23(3):17-19. |
| 作者姓名： | 费万春 朱亚一 崔晓丽 徐回祥 周望 朱美男 李春萍 |
| 作者单位： | 苏州大学,苏州,215021 |
| 摘 要： | 从生丝截面积检测方面对生丝的光学和密度等性状进行了分析。把用模拟光电检测器和用耦合器件（CCD）对生丝截面积的两种检测方式进行较详细的分析研究。经过实际测试研究，提出了一种新的生丝截面积光电检测方法。分析结果有助于对于生丝细度相关指标无损检测自动化的研究。 |
| 关 键 词： | 生丝截面积 光电检测方法 电荷耦合器件 无损检测 |
Photoelectric Measurment of Cross Sectional Area of Raw Silk |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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