| 基于无失效数据的指数型元件及系统的可靠性置信限 |
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| 引用本文： | 吴和成,王顺绪.基于无失效数据的指数型元件及系统的可靠性置信限[J].工程数学学报,2001,18(3):65-70. |
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| 作者姓名： | 吴和成 王顺绪 |
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| 作者单位： | 连云港化工高等专科学校, |
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| 基金项目： | 江苏省教委自然科学基金资助项目 (99KJB110 0 0 8) |
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| 摘 要： | 设指数寿命型元件有成败型试验数据，在ti时刻随机抽取Ni个元件试验，结果无失效元件，基于试验数据（ti,Ni,Ni)(i=(1,k)^-,讨论了元件及系统的可靠性置信限。
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| 关 键 词： | 可靠性 置信限 无失效数据 指数型元件 串联系统 贮备系统 fiducial置信下限 |
| 文章编号： | 1005-3085(2001)03-0065-06 |
| 修稿时间： | 2000年4月3日 |
The Confidence Limits of Reliability for the Exponential Life Type Components and The System Which Have No False Test |
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