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聚酰亚胺/二氧化钛纳米复合薄膜制备与耐电晕性
引用本文:孔宇楠,殷景华,铁雯鹭,刘晓旭,宋明歆,雷清泉.聚酰亚胺/二氧化钛纳米复合薄膜制备与耐电晕性[J].无机材料学报,2014(1).
作者姓名:孔宇楠  殷景华  铁雯鹭  刘晓旭  宋明歆  雷清泉
作者单位:哈尔滨理工大学应用科学学院;哈尔滨理工大学工程电介质及其应用教育部重点实验室;
基金项目:国家自然科学基金(51077028);黑龙江省自然科学基金(A201006);黑龙江省青年科学基金(QC2011C106)~~
摘    要:采用原位聚合法制备不同TiO2组分聚酰亚胺(PI)/纳米TiO2复合薄膜,薄膜厚度50μm。测试结果表明,TiO2呈球状颗粒,直径约为100 nm,聚酰亚胺呈片状,尺寸约为2μm×1μm。随着TiO2含量的增加,复合薄膜介电常数和介电损耗增大,击穿场强先增加后降低;在40 kV/mm电场强度下,复合薄膜耐电晕老化寿命增加,纯PI薄膜寿命为3 h,20wt%TiO2含量薄膜寿命达到25 h;TiO2颗粒耐电晕能力强,与聚合物形成界面相,改变材料陷阱能级,有利于空间电荷的扩散和热量的传输,在薄膜表面形成放电阻挡层,降低局部放电对薄膜内部的侵蚀,显著提高薄膜耐电晕老化寿命。

关 键 词:聚酰亚胺  TiO  复合薄膜  制备  耐电晕
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