P型插头座的可靠性试验与分析 |
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引用本文: | 颜永昌,欧阳关玉,张乐雁,王太兰,刘启云.P型插头座的可靠性试验与分析[J].机电元件,1983(3). |
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作者姓名: | 颜永昌 欧阳关玉 张乐雁 王太兰 刘启云 |
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作者单位: | 八五五厂
(颜永昌,欧阳关玉,张乐雁,王太兰),八五五厂(刘启云) |
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摘 要: | P型插头座是供电子设备中交直流电路连接用元件。随着电子设备的复杂化和高功能化,对各种插头座可靠性的要求也愈来愈高。因此需要了解插头座的失效规律、失效方式和引起失效的因素,以便确定可靠的保证方法。
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