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吸收层与倍增层分离的4H-SiC雪崩光电探测器
引用本文:朱会丽,陈厦平,吴正云.吸收层与倍增层分离的4H-SiC雪崩光电探测器[J].半导体学报,2007,28(2):284-288.
作者姓名:朱会丽  陈厦平  吴正云
作者单位:厦门大学物理系,361005 厦门;厦门大学物理系,361005 厦门;厦门大学物理系,361005 厦门;厦门大学微机电中心,361005 厦门
基金项目:福建省厦门市科技计划项目
摘    要:设计和制备了吸收层和倍增层分开的4H-SiC穿通型雪崩紫外光电探测器.设计器件的倍增层和吸收层厚度分别为0.25和1μm.采用multiple junction termination extension(MJTE)方法减少器件的电流集边效应和器件表面电场.对器件的暗电流、光电流和光谱响应进行了测量.器件在55V的低击穿电压下获得了一个高的增益(>104);穿通前器件暗电流约为10pA数量级;0V偏压下器件光谱响应的紫外可见比大于103.光谱响应的峰值波长随反向偏压的增大而向短波方向移动,在击穿电压附近光谱响应的峰值波长移到210nm,此波长远远小于在0V时的响应峰值.结果显示器件在紫外光探测中具有优良的性能.

关 键 词:4H-SiC  紫外光  雪崩光电探测器  吸收层  增层  分离  雪崩光电探测器  Photodetector  Avalanche  Multiplication  性能  紫外光探测  显示器件  结果  响应峰值  峰值波长  移动  波方向  反向偏压  紫外可见  增益  击穿电压  测量
文章编号:0253-4177(2007)02-0284-05
修稿时间:07 26 2006 12:00AM

Separate Absorption and Multiplication 4H-SiC UltravioletAvalanche Photodetector
Zhu Huili,Chen Xiaping and Wu Zhengyun.Separate Absorption and Multiplication 4H-SiC UltravioletAvalanche Photodetector[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(2):284-288.
Authors:Zhu Huili  Chen Xiaping and Wu Zhengyun
Affiliation:Department of Physics,Xiamen University,Xiamen 361005,China;Department of Physics,Xiamen University,Xiamen 361005,China;Department of Physics,Xiamen University,Xiamen 361005,China;MEMS Center,Xiamen University,Xiamen 361005,China
Abstract:
Keywords:4H-SiC  ultraviolet  avalanche photodetector
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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