层析γ扫描测量（TGS）技术研究进展报告

为了能够满足实际应用的要求，层析γ扫描测量（TGS）技术采用75Se做透射源，利用75Se的121．5、264．4、279．8和400．7keV能峰对铀和钚核材料进行分析，结合TGS测量装置及其探测器的结构，利用蒙特卡罗模拟计算与实验相结合的方法建立TGS效率刻度矩阵。在数据分析软件中，编写了效率刻度数据库。