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基于VXI总线高速数字测试模块的设计
引用本文:俞颖,陈光.基于VXI总线高速数字测试模块的设计[J].微计算机信息,2006,22(1):172-174.
作者姓名:俞颖  陈光
作者单位:1. 610054,成都电子科技大学自动化工程学院;610041,成都飞机设计研究所
2. 610054,成都电子科技大学自动化工程学院
3. 610041,成都飞机设计研究所
摘    要:文章介绍了基于VXI总线高速数字测试模块的工作原理和技术指标。讨论了模块的设计思想及数据传输方式。该模块通用性和扩展性强,具有高速数据传输和实时故障诊断功能。

关 键 词:VXI总线  VISA函数  字串行协议  共享存储器协议
文章编号:1008-0570(2006)01-1-0172-03
修稿时间:2005年5月17日

Design Of the High-speed Digital Testing Instrument Based on VXIbus
Yu,Ying,Chen,Guangju,Gu,Yaping,Xue,Zhan.Design Of the High-speed Digital Testing Instrument Based on VXIbus[J].Control & Automation,2006,22(1):172-174.
Authors:Yu  Ying  Chen  Guangju  Gu  Yaping  Xue  Zhan
Abstract:The principle and project to design the high-speed digital testing instrument based on VXIbus is presented. The method to transmit data is discussed. The instrument has the ability to be utilized and expanded easily. The function of high-speed digital transmission and real-time test for malfunction is designed.
Keywords:VXIbus  VISA  WSP  FDC
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