| MLCC之绝缘低压失效机理 |
| |
| 引用本文： | 李标荣,陈万平.MLCC之绝缘低压失效机理[J].电子元件与材料,1999,18(4):32-33,40. |
| |
| 作者姓名： | 李标荣 陈万平 |
| |
| 作者单位： | 1. 东莞南方电子有限公司,东莞,511700
2. 日本仙台东北大学金属材料研究所,日本,仙台,980-0812 |
| |
| 摘 要： | 在长期低压直流电场作用下，含钛陶瓷ＭＬＣＣ之绝缘电阻会逐渐变小，介质损耗增加，直到超出容许极限而失效。通过微观导电机理分析，探明这主要是钛－氧八面体中氧缺位之迁移、空间电荷积累以及潮湿环境作用所致。
|
| 关 键 词： | MLCC 绝缘电阻 低压失效 |
The failure mechanism of MLCC's under low voltage |
| |
| Li Biaorong,Chen Wanping.The failure mechanism of MLCC''''s under low voltage[J].Electronic Components & Materials,1999,18(4):32-33,40. |
| |
| Authors: | Li Biaorong Chen Wanping |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | MLCC |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
