VCS Observed Coverage技术的评估

1.0简介 当前,设计验证已经成为半导体芯片设计过程所面临的主要难题之一.如何确认芯片能够在相关应用中正确运行?除了需要写出尽可能多的测试向量来验证芯片的各方面功能以外,下列问题也变得日益重要:如何测定这些测试的质量?测试包到底覆盖了多大范围的芯片功能?对于这些问题,传统的解决方法是应用代码覆盖率分析工具.利用这些工具可以测量出在仿真状态下实际执行了设计的多大部分,并能提供有关代码行覆盖率、条件覆盖率、信号翻转覆盖率的报告.但是,代码覆盖率分析工具所能给出的覆盖率数值在本质上属于乐观性的估计:举例来说,它们可以指出一条代码行得到了执行,但是却不能指出这条代码行上的代码,其正确性是否得到了验证.因此,有可能出现这种情况,即有报告显示一条代码行已经在仿真状态下得以覆盖,但是由此产生的效果却未在仿真中检查出来,并未检查到这条代码行的错误功能.测试结果可能会显示"合格",但却没有察觉到错误的功能行为.