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漏磁检测技术的新发展--磁记忆检测
引用本文:张立东,边境,刘贵民.漏磁检测技术的新发展--磁记忆检测[J].四川兵工学报,2004,25(6):19-21.
作者姓名:张立东  边境  刘贵民
作者单位:装甲兵工程学院材料科学与工程系,北京,100072
摘    要:磁记忆检测技术(MMT)是基于漏磁检测方法上的一种新兴元损检测(NDT)技术,是迄今为止对金属部件进行早期诊断唯一行之有效的无损检测方法。本文着重介绍了磁记忆检测技术的原理、检测设备及其在实际生产中的应用。

关 键 词:磁记忆检测  漏磁检测  金属部件  无损检测方法  技术  实际  唯一  一行  NDT  新发展
修稿时间:2004年9月22日

New development of magnetic leaking examination-magnetic memory test
Authors:ZHANG Li-dong  Bian Jing  LIU Gui-min
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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