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红外焦平面阵列性能参数测试平台
引用本文:肖静,周昊,何兆湘,陈四海,易新建.红外焦平面阵列性能参数测试平台[J].红外技术,2004,26(5):75-79.
作者姓名:肖静  周昊  何兆湘  陈四海  易新建
作者单位:华中科技大学光电子工程系,湖北,武汉,430074
摘    要:分析了红外焦平面阵列器件性能参数测试平台的要求,建立了包括红外源及 IRFPA 模块、控制模块和信号放大、采集、处理模块在内的测试系统,可用来进行响应率、探测率、噪声等效功率、噪声等效温差等红外焦平面阵列性能参数的测试。用此参数测试平台来测试 160×120 红外焦平面阵列,经软件分析处理测试数据,证明该测试平台是准确有效的。最后对红外焦平面阵列性能参数测试平台的进一步优化提出了要求。

关 键 词:红外焦平面阵列  性能参数  测试平台  IRFPA  器件性能  噪声等效温差  探测率  软件分析  测试数据  模块
文章编号:1001-8891(2004)05-0075-05

A Test Bengch for Measuring Characteristic Parameters of Infrared Focal Plane Arrays
XIAO Jing,ZHOU Hao,HE Zhao-Xiang,CHEN Si-Hai,YI Xin-Jian.A Test Bengch for Measuring Characteristic Parameters of Infrared Focal Plane Arrays[J].Infrared Technology,2004,26(5):75-79.
Authors:XIAO Jing  ZHOU Hao  HE Zhao-Xiang  CHEN Si-Hai  YI Xin-Jian
Abstract:
Keywords:IRFPA  test bench for parameters  analyzing and processing software of parameters  non-effective pixels
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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